Xilinx SDK经验分享一
启动篇
- 前言
本文依据个人试验及工作经验总理而成，分享出来供大家参考，如有错误或更好的方法望与大家一起探讨。
- 背景
作者学习Xilinx SDK的时候，发现该平台使用起来遇到各种各样的问题和bug，网上解决方法都是零零散散的或者根本找不到，有时候遇到问题就要卡上几天甚至更久，特别浪费时间。
所以在个人学习期间，就遇到的一些问题整理出来，不能说是很完整的教程，但是希望后来者少踩一些坑和少走一些弯路。
- 主要内容
Xilinx SDK软件固化后不能启动。
- 现象
将程序固化到板卡后断电重启板卡，程序不能启动。而在JTAG调试时程序能正常运行；
- 问题起因
Xilinx SDK提供了2个RS232串口，其中可用1个串口作为调试串口输出调试信息。因2个串口在项目中都需要用到，故调试信息输出时只好改为控制台（ps7_coresight_comp_0）的方式输出，便于查看调试信息定位问题。
- 问题分析
可能存在的问题如下：
- 程序固化失败，虽然固化软件提示成功，可能存在某些字节写入失败或文件被破坏；
- DDR没有正常工作；
- 启动模式错误，分别为SD卡启动、FLASH启动、JTAG三种模式；
- BSP配置错误；
- 排除步骤
- 先将程序固化到FLASH中，再在在JTAG调试模式下将FLASH文件读出来进行文件效验，即验证了FLASH正常工作，也验证了文件烧进FLASH后的正确性。确认FLASH读写无误且文件写入后正确。排除了FLASH问题和文件破坏的问题；
- 通过JTAG方式对DDR进行读写验证，分别按bit、字节、双字节和4字节对内存地址从0开始验证1M范围，读写均正常。排了DDR存在的问题；
- 硬件分析拨码开关连线正确性，并将拨码开关拨至FLASH启动经仔细检查确认无误，问题依旧出现不能启动。排除了因启动模式错误的问题。
- 使用Xilinx SDK自带的内存测试程序，不经任何更改固化到板卡，重启板卡后问题依旧出现；
- 将Xilinx SDK自带的内存测试程序，烧录到可正常启动的另一块板卡上，重启板卡后问题依旧出现；
- 修改Xilinx SDK自带的内存测试程序的内存测试起始地址，将测试起始地址改为内存最后1M空间，问题排除可正常启动；
- 修改BSP中stdin和stdout分别改为其中一个串口输出或改为none不输出，问题排除可正常启动；
- 故障产生原因
- Xilinx SDK程序固化到板卡后，不能擦除DDR中前一部份数据（ld中ps7_ddr_0基地址大小0x100000），否则程序加载后会将该内存中的数据擦除导致程序无法运行；
- BSP中stdin和stdout不能使用控制台（ps7_coresight_comp_0）输出，因为该方式只有在JTAG模式下才能用，而程序固化后因为没有连接JTAG输出地址为空设备导致程序启动时崩溃。
- 结论
- 程序中不能对DDR地址0x0~0x100000（ld中ps7_ddr_0基地址大小0x100000）内存段进行读写,导致破坏程序地址；
- BSP中设置stdin和stdout不能设置为ps7_coresight_comp_0输出方式；
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